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Signalintegrität und Strahlungspegel

Bewertet mit dem RF-Simulationswerkzeug Framework

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Leiterplatte

Signalintegrität und Strahlungspegel:

Bewertung mit RF Simulation Tool Framework

In diesem Beitrag wird eine neuartige Methode zur Bewertung möglicher Faktoren beschrieben, die die Leistung digitaler Hochgeschwindigkeits-Leiterplatten im Hinblick auf die Einhaltung der Signalintegrität (SI) und der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) beeinflussen. Ausgehend von einem kurzen Dossier über die beteiligten Konzepte führt es uns durch die Simulationsmethoden und deckt dabei die Warum- und Wie-Aspekte des Ablaufs zusammen mit treffenden Illustrationen von Praxisfällen ab, in denen die Methode effektiv eingesetzt wird.

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